ATE 장비 동영상
   HIOKI ATE PROBE
    F.P.T B.B.T
   1109 IMPEDANCE
   1116 X-Y C
   1117 X-Y BOARD
   1270/1271 X-Y BOARD
    F.P.T I.C.T
   1114 X-Y IN-CIRCUIT
   1240 X-Y IN-CIRCUIT
    JIG B.B.T
   1107-30,31,20,21
   1107-61 UNIT
   1107-62 BARE BOARD
   1108 UNIT
   1118 X-Y INTEGRATED
    JIG I.C.T
   1105-01 IN-CIRCUIT
   1220-00/1220-02
    계측기 장비
   3504 C 하이 테스터
 
 
 
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시험 전압100~200V의 범위에 대해Max.200MΩ의 절연 검사 가능

저리크 전류 판정이 가능

옵션의AC계측 기능에 의해 콘덴서Min.10pF,코일Min.1μH까지 의 검사가 가능

1107-30 (검사 포인트수Max.4096ch, 4단자 계측 대응)

1107-31 (검사 포인트수Max.8192ch, 4단자 계측 대응)

포인트 표시 기능 탑재

4단자 측정 기능 표준 장비(반도체 스윗치 회로 채용)

시험 전압100~250V의 범위에 대해Max.200MΩ의 절연 검사 가능

Windows XP 탑재

 
   
  1107-30,31,20,21.pdf